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將基本參數(FP)法擴展到康普頓散射(Compton scattering)內標準品校正，並應用於礦石和精礦樣品的金屬元素分析


2025年冬季第41卷第1期
 
 

概要

康普頓散射(Compton scattering)內標準品校正技術，是一種常規用於地質粉末樣品分析的矩陣校正法，通過整合矩陣校正進行改進。矩陣校正係數理論上是透過基本參數(FP)方法計算的。改進後的方法準確地將校準的適用範圍擴展到高濃度。

改良後的校正方法可應用在鐵礦、銅礦/精礦和氧化鎳和硫化鎳等採礦樣品的壓製顆粒法分析。

透過基本參數(FP)計算，得到的理論α係數小於常規的無內標準品理論α係數。這意味著這個方法可以減少分析誤差共存的影響組件。這個方法在粉狀礦石樣品分析中具有一定的應用價值。


1. 介紹

內標準法是校正地質樣品基質效應(matrix effects)的一種技術。在X射線光譜分析中，樣品散射的X射線可作為作為內標準品。利用康普頓散射(Compton scattering)X射線作為內標準品，進行基質校正十分便利，因為它並不需要複雜的樣品製備，例如在樣品添加任何物質。是一種校正矽酸鹽岩石和礦石等地質樣品基質效應(matrix effects)的實用技術。

Rigaku發展一種獨特的先進基本參數(FP)程序，以擴展使用康普頓散射(Compton scattering)的內標準法，從而擴大對礦石和精礦中有價值金屬元素分析的範圍。

本報告展示Rigaku獨特的校正技術和一些應用實例。
 



 
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